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      • CleanMill氬離子研磨系統

        CleanMill氬離子研磨系統為電池樣品SEM表征提供高質(zhì)量的制樣方案,傳統的機械研磨方式制備樣品斷面,斷面不可避免的存在機械損傷和磨料嵌入樣品引起的污染。使用氬離子束切割樣品制備,可以制備出沒(méi)有機械損傷和表面污染的平整斷面,非常適用于 制備電池材料和部件的斷面樣品,從而進(jìn)行掃 描電子顯微鏡結構表征分析。

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        更新日期:2023-03-20
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      • ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣

        ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣, 為 ALTO 冷凍掃描電鏡系統而設計的撞擊式冷凍制樣設備,提供了樣品載體和樣品載臺,它們可以放置在 ALTO 2500 冷凍工作站或ALTO 1000 的液氮泥加工站中*。

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        更新日期:2023-03-20
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      • Gatan氬離子拋光系統Ilion II 697

        Gatan氬離子拋光系統Ilion II 697,可利用IlionII進(jìn)行拋光加工的材料種類(lèi)十分廣泛,包括由多元素組成的試樣,以及具有不同的機械硬度、尺寸和物理特性的合金、半導體材料、聚合物和礦物等。

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        更新日期:2023-03-20
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      • SOLARUS (955)Plasma等離子清洗儀

        SOLARUS (955)Plasma等離子清洗儀,去除碳氫化合物對TEM和SEM樣品臺或樣品的污染,*的清洗解決方案,它利用等離子配方,對于所有的樣品,包括Holey碳膜,都具有更快更*的清洗效果。

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        更新日期:2023-03-20
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      • BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀

        BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀,針對SEM/TEM開(kāi)發(fā)出的產(chǎn)品,它可以對不導電樣品進(jìn)行噴鍍,使導電性不理想的樣品也能夠在SEM/TEM中進(jìn)行觀(guān)測。

        訪(fǎng)問(wèn)量:2003
        更新日期:2023-03-20
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